結合影像量測儀的雷射位移量測裝置及方法
專利名稱 結合影像量測儀的雷射位移量測裝置及方法
專利證書號 I451064
專利權人 國立虎尾科技大學
專利國家 台灣,
發明人 徐力弘,傅毓芬
應用領域 精密量測技術類
 
專利商品特色:
"一種結合影像量測儀的雷射位移量測裝置及方法,係使雷射模組射出的雷射光經由反射
鏡投射於待測物,在該待測物上顯示一光點並經由該透鏡成像於該光檢測器;該影像量測儀
攝取該光點的影像資訊;該資訊處理單元讀取及處理該影像資訊,然後確認該光點是否在正
確的量測位置;若該光點不在正確的量測位置,則使該反射鏡變更鏡面的角度,使該雷射光
投射於正確的量測位置,然後使該資訊處理單元讀取及處理該光檢測器輸出的量測訊號,以
獲得該量測位置的數值;進而可量測待測物的高度、深度及表面形貌,並提升雷射位移量測
裝置的精密量測能力。"



聯繫方式
聯絡人: 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 與我連絡
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