光學檢測平行度裝置
專利名稱 光學檢測平行度裝置
專利證書號 發明第I411765號
專利權人 國立虎尾科技大學
專利國家 台灣,
發明人 覺文郁,吳家鴻,陳怡靜,李健誌,鄧雲峰,楊登宇
應用領域 精密量測技術類
 
專利商品特色:
一種光學檢測平行度裝置,特別係指一種高精確度、且檢測迅速的平行度檢測裝置,該裝置具有一光源模組、一分光模組及至少二光電感測器,其中光源模組具有一光源與一分光元件,使光源模組能產生兩相互垂直之光束,其中一光束與移動方向平行、且為其中一光電感測器所接收,而另一光束則經分光模組產生兩相互垂直之光束,其中一光束與前述平行移動方向之光束平行,且該光束並為另一光電感測器所接收,透過上述的設計,其能藉由垂直與平行之光束作用,而不會受到機台機構的影響造成量測的誤差,並能具有低成本、高精確度、體積小、攜帶方便、架設簡易及檢測迅速之效。



聯繫方式
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