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有機薄膜材料劣化檢測方法 |
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 專利名稱 |
有機薄膜材料劣化檢測方法
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| 專利證書號 |
發明第I427287號
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| 專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
| 專利國家 |
台灣, |
| 發明人 |
莊賦祥,賴廣志,葉佩勳,洪鄰安,王舜熙,蔡裕勝,廖育斌,李柏德,蘇秋燕,莊力瑋 |
| 應用領域 |
材料與能源工程類 |
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專利商品特色：
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一種有機薄膜材料劣化檢測方法，提供一加熱裝置，對有機薄膜材料所製成之一有機層均勻加熱，並控制溫度持續上升至一預熱溫度再緩慢降溫，以一偏振光源照射有機層，並於該有機層上方設置一偏振片，使該偏振片之光軸垂直該偏振光源之光軸，於該偏振片上方觀察該有機層之內部結構，配合以不同之預熱溫度加熱該有機層，觀測到之有機層之內部結構出現紋路時，則該預熱溫度為所述有機薄膜材料劣化之結晶溫度。
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聯繫方式 |
| 聯絡人： 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
 與我連絡 |
| 地址： 632雲林縣虎尾鎮文化路64號 |
電話： 05-631-5561 |
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