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發光二極體之晶片溫度量測系統及量測方法 |
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 專利名稱 |
發光二極體之晶片溫度量測系統及量測方法
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| 專利證書號 |
I393896
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| 專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
| 專利國家 |
台灣, |
| 發明人 |
陳政裕,鄭健隆,邱國珍,陳冠文,林建宏,陳柏力,陳席卿,葉進純 |
| 應用領域 |
精密量測技術類 |
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專利商品特色：
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一種發光二極體之晶片溫度量測系統及量測方法，係利用具有強大資料擷取與監控功能的開發程式開發出之人機介面與儀器硬體作溝通，藉由量測一待測發光二極體之順向電壓，進而計算出在該發光二極體受到驅動而正常發光之後，該發光二極體之晶片溫度，並藉由找出該發光二極體之最佳量測電流，使計算出之晶片溫度更加準確。
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聯繫方式 |
| 聯絡人： 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
 與我連絡 |
| 地址： 632雲林縣虎尾鎮文化路64號 |
電話： 05-631-5561 |
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