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光學式機台校正檢測裝置 |
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 專利名稱 |
光學式機台校正檢測裝置
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| 專利證書號 |
I405950
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| 專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
| 專利國家 |
台灣, |
| 發明人 |
覺文郁,吳家鴻,陳怡靜,徐東暉,枋仁傑,楊登宇 |
| 應用領域 |
精密量測技術類 |
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專利商品特色：
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一種光學式機台校正檢測裝置，主要由一光源單元、一分光元件、至少一光電感測器所構成；該光源的雷射光入射分光元件後分為成二光束，一光束垂直於固定體、另一光束平行於固定體，使之可用於直度檢測、角度檢測、垂直度檢測、立柱傾角檢測、立柱平行度檢測及橫梁傾角檢測；若檢測後無誤差產生，則檢測光點位置與起始光點位置相同；反之，若檢測後有誤差產生，則檢測光點位置會隨著誤差的變化而改變。
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聯繫方式 |
| 聯絡人： 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
 與我連絡 |
| 地址： 632雲林縣虎尾鎮文化路64號 |
電話： 05-631-5561 |
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