| |
雷射干涉儀檢測角度誤差之裝置與方法 |
|
|
 
 專利名稱 |
雷射干涉儀檢測角度誤差之裝置與方法
|
| 專利證書號 |
I398622
|
| 專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
| 專利國家 |
台灣, |
| 發明人 |
覺文郁,楊登宇,劉建宏,徐東暉,陳怡靜 |
| 應用領域 |
機械與機電自動化工程類 |
|
|
| |
專利商品特色：
|
一種雷射干涉儀檢測角度誤差之裝置與方法，主要包括一個雙光束雷射、多個角隅稜鏡與反射鏡，雷射干涉儀所射出的雙光束，分別射入角隅稜鏡後，產生反射光束至該反射鏡，再經由該反射鏡將各反射光束射至該角隅稜鏡，最後會獲得二位移量；當待測系統產生角度誤差時，二位移量之數值會產生差異，將二位移量相減，就能得到相對之位移量，再透過三角函數計算，即可檢測待測系統之俯仰度誤差、偏搖度誤差。
|
聯繫方式 |
| 聯絡人： 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
 與我連絡 |
| 地址： 632雲林縣虎尾鎮文化路64號 |
電話： 05-631-5561 |
|
|
| |
|
 |
|
|
