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一種應用分光束與動態感測器量測取放機構誤差之裝置 |
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 專利名稱 |
一種應用分光束與動態感測器量測取放機構誤差之裝置
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| 專利證書號 |
I388030
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| 專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
| 專利國家 |
台灣, |
| 發明人 |
覺文郁,劉建宏,徐東暉,林玉山,段黎黎 |
| 應用領域 |
精密量測技術類 |
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專利商品特色：
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一種應用分光束與動態感測器量測取放機構誤差之裝置，係由多光源、一感測單元、以及一取放機構所構成；讓感測單元隨著取放機構移動；光源安置於取放機構之相關軸位置，當光源光束由光源射出，並射入感測單元之分光鏡，產生的分光束入射取放機構上的感測單元光源之第一感測器與第二感測器時，則使二組感測器能檢測到取放機構在該相關軸之誤差；據此，將上述所量測到的處理訊號利用快速傅利葉轉換計算，即可能得到取放機構之頻率分析。
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聯繫方式 |
| 聯絡人： 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
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電話： 05-631-5561 |
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