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電光訊探測方法及其探測系統 |
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專利名稱 |
電光訊探測方法及其探測系統
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專利證書號 |
I393892
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專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
專利國家 |
台灣, |
發明人 |
郭文凱,吳培宇,李長青 |
應用領域 |
光電與電子類 |
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專利商品特色:
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一種電光訊號探測方法及其探測系統,係以一電光訊號探測系統產生一共振光源,以感測一待測電子元件之內建電場,其中該電光訊號探測系統包括有一探測頭,該探測頭具有一電極層及一電光晶體,該電極層用以接收一交流訊號使該電光晶體內產生一感應電場,當一雷射光源經該電光晶體內部反射再自該電極層出射後形成之干涉光則由一光偵測器感測,並將隨時間改變強度之干涉光轉換為電訊號,再由一鎖相放大器將該電訊號取出對應該交流訊號頻率之鎖相信號,因此調整該雷射光源之功率頻寬使鎖相信號具有最大強度且最小強度變化,則形成上述共振光源。
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聯繫方式 |
聯絡人: 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
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