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三維紅外線光譜量測方法 |
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專利名稱 |
三維紅外線光譜量測方法
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專利證書號 |
I387744
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專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
專利國家 |
台灣, |
發明人 |
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應用領域 |
光電與電子類 |
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專利商品特色:
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本發明係有關一種三維紅外線光譜量測方法,其包括提供一紅外線光譜儀、一紅外偏光鏡裝置、一縱/橫向旋轉手段及一包括有一計算軟體的運算手段,將一高分子薄膜試片裝置在該縱/橫向旋轉手段,以該紅外光譜儀射出紅外光,穿過該紅外偏光鏡裝置後投射在該試片上,以獲得該試片的一第一紅外光譜,並以該縱/橫向旋轉手段將該試片旋轉一預定角度,並獲得該角度的一第二紅外光譜,利用該運算手段之該計算軟體依據該第一紅外光譜及該第二紅外光譜,並以一橢圓球體表面投影計算法來得到該試片之三維紅外光譜,而供一使用者對該試片做三維結構的分析。
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相關圖片:
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聯絡人: 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
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