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平面式發光體之檢測系統及方法 |
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 專利名稱 |
平面式發光體之檢測系統及方法
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| 專利證書號 |
I344541
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| 專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
| 專利國家 |
台灣, |
| 發明人 |
劉煥彩,林藎良 |
| 應用領域 |
機械與機電自動化工程類 |
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專利商品特色：
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本發明係有關一種平面式發光體之檢測系統及方法，尤指一種包括有一光纖、一量測位置移動機構、一光譜分析儀及一電腦裝置，藉由上述裝置之連結，俾能由該電腦裝置作出待測平面式發光體之色度、色溫及輝度的分析與結果顯示者。
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| 相關圖片：
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聯繫方式 |
| 聯絡人： 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
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