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掃描式三角量測系統及方法 |
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 專利名稱 |
掃描式三角量測系統及方法
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| 專利證書號 |
I352189
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| 專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
| 專利國家 |
台灣, |
| 發明人 |
徐力弘,傅毓芬,董祐銓,戴國煒 |
| 應用領域 |
光電與電子類 |
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專利商品特色：
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本發明係有關一種掃描式三角測量系統及方法，尤指一種包括一掃瞄模組、一第一光檢測器、一第二光檢測器、一分光裝置及一訊號處理單元，俾能藉由該第一光檢測器及該第二光檢測器之檢測信號進行運算處理及比對求得該待測物的形貌尺寸參數者
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| 相關圖片：
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| 聯絡人： 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
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