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雙光探針檢測透明物體之厚度與間隙的裝置及方法 |
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 專利名稱 |
雙光探針檢測透明物體之厚度與間隙的裝置及方法
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| 專利證書號 |
I352188
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| 專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
| 專利國家 |
台灣, |
| 發明人 |
徐力弘,傅毓芬 |
| 應用領域 |
光電與電子類 |
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專利商品特色：
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本發明係有關於一種雙光探針檢測透明物體之厚度與間隙的裝置及方法，尤指一種採用多元檢測器鎖定共軛焦面的位置，配合利用像散法、刀緣法及臨界角法或其他可實施之方法，而可達到精準的定位及測量出透明物體其厚度與間隙之目的者。
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| 相關圖片：
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聯繫方式 |
| 聯絡人： 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
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