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一種檢測多軸加工機誤差之系統與方法 |
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專利名稱 |
一種檢測多軸加工機誤差之系統與方法
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專利證書號 |
I326630
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專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
專利國家 |
中華民國, |
發明人 |
覺文郁,劉建宏,徐東暉,鄭友仁,李羿宗 |
應用領域 |
精密量測技術類 |
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專利商品特色:
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一種檢測多軸加工機誤差之系統與方法,係由雷射光源與光電感測器所組成之簡易架構,為將雷射光源固定於旋轉軸上、光電感測器固定於線性軸上,以光學非接觸檢測模式以檢測多軸加工機之線性軸(X、Y與Z軸)與旋轉軸(A、B與C軸)運動時所產生之誤差,以達高精度之要求;據此,藉由上述利用具有高解析度之光學式儀器所架構形成,不會受到磁場的干擾造成量測的誤差,且亦可利用於各種工作場合上,並具有低成本、高精確度、體積小、攜帶方便、架設簡易及檢測迅速等實質效益。
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相關圖片:
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聯繫方式 |
聯絡人: 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
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電話: 05-631-5561 |
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