一種檢測多軸加工機誤差之系統與方法
專利名稱 一種檢測多軸加工機誤差之系統與方法
專利證書號 I326630
專利權人 國立虎尾科技大學
專利國家 中華民國,
發明人 覺文郁,劉建宏,徐東暉,鄭友仁,李羿宗
應用領域 精密量測技術類
 
專利商品特色:
一種檢測多軸加工機誤差之系統與方法,係由雷射光源與光電感測器所組成之簡易架構,為將雷射光源固定於旋轉軸上、光電感測器固定於線性軸上,以光學非接觸檢測模式以檢測多軸加工機之線性軸(X、Y與Z軸)與旋轉軸(A、B與C軸)運動時所產生之誤差,以達高精度之要求;據此,藉由上述利用具有高解析度之光學式儀器所架構形成,不會受到磁場的干擾造成量測的誤差,且亦可利用於各種工作場合上,並具有低成本、高精確度、體積小、攜帶方便、架設簡易及檢測迅速等實質效益。

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