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一種補償雷射二極體與四象儀量測系統之設定誤差的方法 |
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 專利名稱 |
一種補償雷射二極體與四象儀量測系統之設定誤差的方法
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| 專利證書號 |
539598
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| 專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
| 專利國家 |
中華民國, |
| 發明人 |
覺文郁,鄭東堯,陳健煌,劉俊昌,廖書仁 |
| 應用領域 |
精密量測技術類 |
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專利商品特色：
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本發明為使用一種補償雷射二極體與四象儀量測系統之設定誤差(不垂直)的方法，其主要功能是將雷射光束和四象儀呈不垂直時所造成之誤差現象將以消除。在旋轉軸旋轉時量測圓形方面，係將四象儀固定在精準之角定位旋轉平台上，當此量測系統設定誤差產生時，將旋轉平台旋轉90度，再透過反向法，即可將此量測系統設定時所產生的誤差消除。在主軸未旋轉時量測直線方面，係將四象儀固定在精準之角定位旋轉平台上，主軸往上移動適當距離，當此量測系統設定誤差產生時，將旋轉平台旋轉180度，再透過反向法，即可將此量測系統設定時所產生的誤差消除。
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聯繫方式 |
| 聯絡人： 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
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