一種使用雷射二極體及四象儀檢測旋轉軸誤差之方法
專利名稱 一種使用雷射二極體及四象儀檢測旋轉軸誤差之方法
專利證書號 517150
專利權人 國立虎尾科技大學
專利國家 中華民國,
發明人 覺文郁,趙彥傑,謝明興
應用領域 精密量測技術類
 
專利商品特色:
本發明為使用雷射二極體及四象儀檢測旋轉軸誤差之方法,其主要功能為檢測旋轉軸各種誤差元素,當旋轉軸主軸開始旋轉時,各組雷射二極體之光點會落在四象儀上,會使四象儀感測到位移變化,並抓取4個象限之電壓輸出量,所得訊號經A/D卡(Analogy/Digital)處理,並利用軟體做運算之後,分析可得到二維位置誤差,並且利用3組雷射二極體及四象儀機構,配合設計之夾具,可以檢測出旋轉軸之誤差元素。配合電腦輔助取樣、計算及分析,便可呈現誤差軌跡圖形,為一具有實用功效之雷射四象儀檢測旋轉軸誤差之方法。


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