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一種用於三維空間定位性能檢測、三維循軌及任意軸直度量測之雷射陣列量測系統 |
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 專利名稱 |
一種用於三維空間定位性能檢測、三維循軌及任意軸直度量測之雷射陣列量測系統
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| 專利證書號 |
I323685
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| 專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
| 專利國家 |
中華民國, |
| 發明人 |
卓信鴻,覺文郁,陳俊仁,李俊憲 |
| 應用領域 |
精密量測技術類 |
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專利商品特色：
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一種用於三維空間定位性能檢測、三維循軌及任意軸直度量測之雷射陣列量測系統，利用二維位置感測器在多道雷射的空間架構中行走，經過不同位置的雷射光源時，透過分析打在二維位置感測器上的雷射光點，據此，透過多道雷射的空間，利用二維位置感測器所行走的各種路徑時所測得到的訊號加以分析，應用於五軸工具機、五軸並聯式工具機、三軸工具機、機械手臂及三次元量床等機具之三維空間定位檢測、空間任意軌跡循軌及任意線性軸直度之量測。
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| 相關圖片：
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聯繫方式 |
| 聯絡人： 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
 與我連絡 |
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電話： 05-631-5561 |
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