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一種二維光電式高精度角度量測系統 |
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 專利名稱 |
一種二維光電式高精度角度量測系統
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| 專利證書號 |
I320478
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| 專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
| 專利國家 |
中華民國, |
| 發明人 |
覺文郁,林昌進,陳俊仁,李俊憲 |
| 應用領域 |
精密量測技術類 |
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專利商品特色：
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一種二維光電式高精度角度量測系統，可同時量測兩個軸向角度變化，其精度決定於系統的體積大小；係由一雷射光源、一位置感測器以及三反射鏡所構成，其中單面反射鏡固定於待測物上，而雷射光源以及位置感測器及其餘兩面反射鏡均固定於系統夾具上；當雷射光源發出的光束被待測物上的反射鏡反射回系統時，雷射光束會在固定於系統夾具的兩面反射鏡間多次反射，最後投射到二維位置感測器上，透過分析二維位置感測器上的光點位置變化，即可得到待測物兩個軸向角度變化。
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| 聯絡人： 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
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