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一種利用多重反射原理所建立的光電式六自由度量測系統 |
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 專利名稱 |
一種利用多重反射原理所建立的光電式六自由度量測系統
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| 專利證書號 |
I320479
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| 專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
| 專利國家 |
中華民國, |
| 發明人 |
卓信鴻,覺文郁,林昌進,陳俊仁,楊登宇 |
| 應用領域 |
精密量測技術類 |
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專利商品特色：
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一種利用多重反射原理所建立的光電式六自由度量測系統，係由可放置多道雷射光源的雷射塔、三個二維位置感測器及九面反射鏡所組成；本發明將雷射塔置放於待測物之上，並將三個二維位置感測器、九面反射鏡藉由系統夾治具放置於特定的位置上，使得三個二維位置感測器可以接受到雷射塔其中三道雷射光源的雷射光；雷射塔所發出的雷射光在到達個別的二維位置感測器前，會在反射鏡間多重反射，透過增加雷射光的反射次數可以增加本發明的系統精度。
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聯繫方式 |
| 聯絡人： 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
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電話： 05-631-5561 |
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