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以多波長光源結合全反射外差干涉技術量測色散之方法及系統 |
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專利名稱 |
以多波長光源結合全反射外差干涉技術量測色散之方法及系統
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專利證書號 |
I243892
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專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
專利國家 |
中華民國, |
發明人 |
邱銘宏,王信福 |
應用領域 |
光電與電子類 |
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專利商品特色:
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本發明係有關於一種以多波長光源結合全反射外差干涉技術量測色散之方法及系統,特別是一種共光程外差干涉技術以作為量測色散的方法,主要是以相位取代光強度,並採用多波長光源結合全反射外差干涉技術,測量於界面全反射時,所引起的S偏光與P偏光之間的相位差延遲,利用改變光源波長使相位差值相對地改變,由此相對應的關係,找出色散函數中之相關參數值以求出其色散度,並在不改變入射角的條件下,逕行測量,以達快速準確又方便的測量結果。
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相關圖片:
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聯繫方式 |
聯絡人: 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
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電話: 05-631-5561 |
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