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一種使用光柵式干涉儀之三維量測系統 |
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 專利名稱 |
一種使用光柵式干涉儀之三維量測系統
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| 專利證書號 |
588152
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| 專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
| 專利國家 |
中華民國, |
| 發明人 |
覺文郁,劉建宏,李龍添,鄭友仁,林榮慶 |
| 應用領域 |
精密量測技術類 |
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專利商品特色：
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一種使用光柵式干涉儀之三維量測系統，該系統乃是利用光柵之特性，並配合雷射二極體入射分光鏡之後，利用細密反射式光柵間距做為量測尺規，以光柵繞射與都卜勒原理為理論基礎，其包含有一雷射二極體、一分光鏡組、一反射鏡組、一光柵、三透鏡組、一光檢測器組以及一平台等，配合正交訊號之解相位與繞射光空間繞射方向變化，使該光柵量測光學元件微組化，使其成為一個具有多自由度的光學量測系統。
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| 相關圖片：
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聯繫方式 |
| 聯絡人： 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
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電話： 05-631-5561 |
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