使用四象儀與雷射二極體之三維振動位移量測系統
專利名稱 使用四象儀與雷射二極體之三維振動位移量測系統
專利證書號 I231365
專利權人 國立虎尾科技大學
專利國家 中華民國,
發明人 覺文郁,劉建宏,周敬棠
應用領域 精密量測技術類
 
專利商品特色:
本發明為使用四象儀與雷射二極體之三維振動位移量測系統,其利用一組夾治具來夾持多組四象儀,以及另一組夾持具夾持兩組以上的雷射發射器,進而建立出一套量測系統。本發明所設計的兩組夾治具,其一能夠最多夾持三個四象儀且相互的垂直度良好,再固定於工具機平台上;另一組則能夠同時夾持兩個雷射二極體且使其發射雷射光相互垂直;這樣可以減少架設誤差。量測時由雷射二極體打出光源至夾治具上的四象儀,當光源打入夾治具上的雷射四象儀,其四象儀接收雷射光隨著平台的量測運動來進一步感測平台的位移誤差,也利用了四象儀可探測及處理二維訊號的能力,對於量測的自由度增加許多。


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