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一種反射式光柵量測旋轉軸誤差裝置與方法 |
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 專利名稱 |
一種反射式光柵量測旋轉軸誤差裝置與方法
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| 專利證書號 |
I220688
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| 專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
| 專利國家 |
中華民國, |
| 發明人 |
覺文郁,劉建宏,連志瑋 |
| 應用領域 |
精密量測技術類 |
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專利商品特色：
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一種反射式光柵量測旋轉軸誤差之裝置與方法，其構成係由一雷射二極體、一反射式光柵及二雷射四象儀所組設而成；其中，該雷射二極體係架設於工具機的旋轉軸上，射出之雷射光源會入射置旋轉軸下方之反射式光柵，使該反射式光柵反射產生正n階繞射光和負n階繞射光，該反射式光柵產生的繞射光會再經由雷射四象儀去接收；當旋轉軸產生偏擺的時候，雷射四象儀會接收到繞射光的位置變化，再從雷射四象儀上光點的變化量去推導偏擺誤差的大小。
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| 相關圖片：
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| 聯絡人： 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
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