一種穿透式光柵量測旋轉軸誤差之裝置
專利名稱 一種穿透式光柵量測旋轉軸誤差之裝置
專利證書號 I239385
專利權人 國立虎尾科技大學
專利國家 中華民國,
發明人 覺文郁,劉建宏,陳俊仁,連志瑋
應用領域 精密量測技術類
 
專利商品特色:
一種穿透式光柵量測旋轉軸誤差之裝置,該系統乃是將雷射二極體係固定於主軸,雷射二極體發出的光束入射至垂直位置上的穿透式光柵上,平行光束由穿透式光柵的作用被分成三道光束,為繞射的零階繞射光、正一階繞射光及負一階繞射光,當旋轉軸旋轉時,零階繞射光產生旋轉軸位置改變量,而正、負一階繞射光也產生位置改變量,經過計算可得旋轉軸角度傾斜量和旋轉軸之轉動軌跡,進而推出旋轉軸的各自由度之誤差。

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