一種使用外差方法做成的電光映像量測系統
專利名稱 一種使用外差方法做成的電光映像量測系統
專利證書號 I240080
專利權人 國立虎尾科技大學
專利國家 中華民國,
發明人 郭文凱
應用領域 精密量測技術類
 
專利商品特色:
本發明為一種使用外差方法做成的電光映像量測系統,其係使用振幅調變雷射系統做微帶線的電場分布量測,其僅需一個振幅調變雷射當成探測的光源,並可將待測元件的訊號外差到音頻的範圍,在此範圍內可用音頻的鎖相放大器獲得高靈敏度的待測訊號振幅。藉由一種強度調變雷射代替了脈衝式雷射,這樣可使系統更簡單並且更容易使用。


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