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一種利用反射原理之光學式水平量測裝置 |
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 專利名稱 |
一種利用反射原理之光學式水平量測裝置
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| 專利證書號 |
I270659
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| 專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
| 專利國家 |
中華民國, |
| 發明人 |
覺文郁,林昌進,陳俊仁,賴建名,林冠宇,李俊憲 |
| 應用領域 |
精密量測技術類 |
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專利商品特色：
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一種利用反射之光學式水平量測裝置，係由雷射光束、反射鏡及位置感測器所組成，並具有一鐘擺機構使反射鏡恆平行水平面，當雷射光束打在固定於鐘擺機構之反射鏡上，並反射至固定在架構上之反射鏡，該雷射光束再反射至位置感測器上，最後透過分析位置感測器上的雷射光點位置，即可得到待測水平面的水平度，本發明之最大特點，在於可同時量測兩個方向的水平度，因此可於真直度、平行度、平坦度、垂直度等幾何誤差量測時，能節省一半的量測步驟與時間。
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| 相關圖片：
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聯繫方式 |
| 聯絡人： 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
 與我連絡 |
| 地址： 632雲林縣虎尾鎮文化路64號 |
電話： 05-631-5561 |
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