即時量測平台角度誤差之光學式量測單元及其方法
專利名稱 即時量測平台角度誤差之光學式量測單元及其方法
專利證書號 I274139
專利權人 國立虎尾科技大學
專利國家 中華民國,
發明人 劉建宏,覺文郁,方得華,姬梁文,謝奇辰,徐東暉
應用領域 精密量測技術類
 
專利商品特色:
一種即時量測平台角度誤差之光學式量測單元及其方法,係於平台上利用夾治具將光學尺、以及由光源體、分光鏡(或1/4λ波片及偏極分光鏡)、準直透鏡、及四象限位移感測器所組成之光學式量測單元對準;藉該光源體射出先通過分光鏡(或1/4λ波片、再通過偏極分光鏡),由分光鏡進行分光,以取得之反射光,再經準直透鏡透後形成準直的雷射光束,再入射至光學尺上,產生繞射光;當線性平台移動時的角度誤差,使得準直光束照射在光柵上的入射方向有角度變化,令其所產生的零階繞射光方向改變;利用零階繞射光的反射方向改變使得反射後的光再通過一次分光鏡(或1/4λ波片後再穿過偏極分光鏡)後,直接聚焦在四象限位移感測器不同位置上,即求得量測結果。

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