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一種利用原子力顯微鏡為基台進行拉伸試驗的裝置與方法 |
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 專利名稱 |
一種利用原子力顯微鏡為基台進行拉伸試驗的裝置與方法
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| 專利證書號 |
I302984
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| 專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
| 專利國家 |
中華民國, |
| 發明人 |
劉建宏,覺文郁,方得華,姬梁文,陳朝貴 |
| 應用領域 |
精密量測技術類 |
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專利商品特色：
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一種利用原子力顯微鏡(AFM)為基台進行拉伸試驗的裝置與方法,係以原子力顯微鏡掃描模組為基台及具有垂直拉伸能力之平台(或元件)做拉伸試驗,利用原子力顯微鏡掃描模組內建探針、雷射量測點與光檢測器來量測被拉伸物被拉伸時之變形量,再反求其變形力;當垂直拉伸壓電平台或(或元件)拉伸時,其位移量可由垂直干涉儀量測得知,並與探針變形之距離結合即可得知其被拉伸物的位伸量;且將電壓/電流檢測器連接線裝在被拉伸物二端上,便可量測被拉伸物在被拉伸時的電壓-電流-阻抗之關係。
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| 相關圖片：
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聯繫方式 |
| 聯絡人： 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
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電話： 05-631-5561 |
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