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一種利用光學像散原理應用於自由曲面之量測系統與方法 |
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專利名稱 |
一種利用光學像散原理應用於自由曲面之量測系統與方法
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專利證書號 |
I287614
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專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
專利國家 |
中華民國, |
發明人 |
劉建宏,覺文郁,王智鵬,姬梁文,方得華 |
應用領域 |
精密量測技術類 |
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專利商品特色:
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一種利用光學像散原理應用於自由曲面之量測系統與方法,為利用光學量測三次元系統以達到非接觸性量測,其係利用半圓柱透鏡的像散特性為量測依據,其出射光束的縱軸與橫軸放大率之不同,沿著正交軸會有兩個不同的聚焦長度,造成截面為橢圓形狀,但逐漸在兩處會退化為直線,稱為散焦線。在兩散焦線之間某個地方光束的截面會呈現圓形,稱為明晰圓,亦是光束最清晰的聚焦位置。並在圓柱透鏡後面放入光感測器,以得知其近焦、聚焦與遠焦之關係。應用鎖焦的方法,可測得待測物外緣輪廓的Z軸,如此藉由判斷聚焦之深度,可得到高度變化之訊號,若配以再加上二維(即X-Y)平面的點資料,即可構成三維的影像量測系統。
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相關圖片:
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聯繫方式 |
聯絡人: 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
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