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高精度兩段式三角雷射共焦探頭 |
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 專利名稱 |
高精度兩段式三角雷射共焦探頭
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| 專利證書號 |
I290211
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| 專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
| 專利國家 |
中華民國, |
| 發明人 |
劉建宏,覺文郁,方得華,姬梁文,陳朝貴,王智鵬,劉建平,王裕翔,陳揚東 |
| 應用領域 |
精密量測技術類 |
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專利商品特色：
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一種高精度兩段式三角雷射共焦探頭，主要係為兩段式的量測系統，第一段是利用共焦探頭，用於量測較平滑的物面(即物體表面微小高度變化較小)；第二段則是使用位置感測器，透過三角雷射量測法量測表面較粗糙的物面(物體表面微小高度變化較高)；據此，利用共焦探頭做小範圍近奈米級的量測，再搭配二維的位置感測器透過三角雷射量測法來作大範圍進行掃描，便能提高量測的距離範圍及精度，並提高其解析度。
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| 相關圖片：
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聯繫方式 |
| 聯絡人： 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
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電話： 05-631-5561 |
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