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應用像散法與透明體半透明體厚度檢測 |
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專利名稱 |
應用像散法與透明體半透明體厚度檢測
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專利證書號 |
I318681
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專利權人 |
國立虎尾科技大學 |
專利國家 |
中華民國, |
發明人 |
劉建宏,覺文郁,方得華,姬梁文,李宗翰,葉憲昌 |
應用領域 |
精密量測技術類 |
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專利商品特色:
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一種應用像散法於透明體與半透明體厚度檢測之系統,係利用一雷射光源,經聚焦物境與圓柱透鏡後聚焦在一四象限感測器接收,當透明或半透明體置放於圓柱透境與四像限感測器之間,會產生像散;利用在光點位置量測方式下,可將透明或半透明體調整與光軸垂直,當光點調整至四象限感測器正中央時,則可確保透明或半透明體與光軸垂直,再轉換至像散量測之方法,可獲得因為像散產生之失焦位移變化,再由幾何光學公式,即可求得待測物之厚度。
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相關圖片:
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聯繫方式 |
聯絡人: 國立虎尾科技大學 產學合作處/智財組 王偉儒 |
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