邱銘宏

光電工程
學經歷:
  國立交通大學光電所博士
mhchiu@nfu.edu.tw  Tel: (05)631-5666

專業技術
  光電工程、光電量測、光電信號處理
   
專利介紹
 
  三維形貌遙測系統及方法  
本發明係關於一種三維形貌遙測系統及方法,其包括偏極板、角度感測器、望遠鏡、濾波片、影像擷取單元及運算......
 
  物體缺陷之量測方法及其裝置  
本發明係有關一種物體缺陷之量測方法及其裝置,其係將一良品置於該光學掃瞄手段與該角度感測器之間的光路上......
 
 
  臨界角法結合CCD作物件缺陷量測之方法及裝置  
本發明係有關一種臨界角法結合CCD作物件缺陷量測之方法及裝置,其係將良品置於光學掃瞄手段與多次反射稜......
 
  光纖生化感測方法及系統  
本發明係有關於一種光纖生化感測方法及系統,其係採用可產生電漿共振效果之光纖感測器,將待檢物放置於該光......
 
 
  光纖感測器量測系統  
本發明係為一種光纖感測器量測系統,主要利用多次全反射所產生之干涉來算出待測物體之折射率。在結構上包括......
 
  穿透式三維顯微鏡裝置及方法  
本發明係關於一種穿透式三維顯微裝置及方法,其主要利用光強度量測的方法結合臨界角與CCD影像擷取技術,......
 
 
  一維掃瞄表面形貌量測裝置與方法  
本發明係有關一種一維掃瞄表面形貌量測裝置與方法,其包括光源、偏極板、透鏡、反射鏡、分光鏡、角度感測器......
 
  角度偏移顯微裝置及方法  
本發明係有關於一種角度偏移顯微裝置及方法,在於提供一種結合共光程外差干涉及表面電漿共振(SPR)的顯......
 
 
  表面電漿波微小角度之測量方法  
本發明係有關於一種表面電漿波微小角度之測量方法,其係建立相位差或反射率之比對參數值資料庫,並採用一可......
 
  以多波長光源結合全反射外差干涉技術量測色散之方法及系統  
本發明係有關於一種以多波長光源結合全反射外差干涉技術量測色散之方法及系統,特別是一種共光程外差干涉技......
 
 
  臨界角法量測橫向位移、定位、速度之裝置及方法  
本發明係有關一種臨界角法量測橫向位移、定位、速度之裝置及方法,其包括光源、擴束器、導光組件、角度感測......
 
  光學式強度型三維表面形貌與顯微量測裝置及方法  
本發明係有關一種光學式強度型三維表面形貌與顯微量測方法,其包括光源、擴束器、偏極板、第二透鏡、偏極分......
 





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