覺文郁

自動化工程
學經歷:
  英國曼徹斯特大學 UMIST機械製造研究所博士
jywe@nfu.edu.tw  Tel: (05)6315300

專業技術
  微/奈米量測、工具機校正及誤差分析、放電加工、自動化量測技術
   
專利介紹
 
  奈米級光學對位及壓印調平裝置  
一種奈米級光學對位與壓印調平設備,設有一框架組、一對位模組及一壓印模組,該框架組設有一基座、一升降座......
 
  鏟花刀具磨耗檢測方法  
"本發明係一種鏟花刀具磨耗檢測方法,可自動判斷該鏟花刀具需要進行更換或磨刀,提
供一即時線上......
 
 
  往復式自動鏟花裝置  
"本發明係一......
 
  鏟花數值控制加工方法  
"本發明係一種鏟花數值控制加工方法,準備一移動平台及一電腦,該移動平台設有一雷
射位移計及一......
 
 
  應用多自由度機械手臂的鏟花裝置  
一種應用多自由度機械手臂的鏟花裝置,設有一多自由度機器手臂、一鏟花裝置、一XY位移平台與一刀具定位裝......
 
  激光直寫式納米週期性結構圖案製造設備  
本發明關於一&#......
 
 
  一種應用於透明體與反射體間之平行量測裝置與方法  
本發明之目的即在於提供一種調焦的方式,能使量測的精度更精準、且穩定,可廣泛的應用於顯微鏡、照相機、攝......
 
  固定座的檢測與加工裝置及其作業方法  
一種固定座的檢測與加工裝置及其作業方法,其能利用工具機中高精度與重複性的進給平台,用來規劃鏟花量測路......
 
 
  垂直度與平行度檢測系統及其檢測方法  
一種垂直度與平行度檢測系統及其檢測方法,該系統包含一光源單元、至少一垂直反射菱鏡裝置、一第一位置感測......
 
  一種應用分光束與動態感測器量測取放機構誤差之裝置  
一種應用分光束與動態感測器量測取放機構誤差之裝置,係由多光源、一感測單元、以及一取放機構所構成;讓感......
 
 
  幾何誤差檢測裝置  
一種幾何誤差檢測裝置,主要由一檢測模組以及至少一光電感測器所構成;該檢測模組係由發射裝置產生至少一光......
 
  一種應用單光源檢測取放機構定位及角度誤差之裝置  
一種應用單光源檢測取放機構定位及角度誤差之裝置,係由一光源、一第一感測單元以及一第二感測單元所構成;......
 
 
  雷射干涉儀檢測角度誤差之裝置與方法  
一種雷射干涉儀檢測角度誤差之裝置與方法,主要包括一個雙光束雷射、多個角隅稜鏡與反射鏡,雷射干涉儀所射......
 
  五軸工具機動態路徑檢測方法及其裝置  
本發明係關於一種五軸工具機動態路徑檢測方法及其裝置,於一待測五軸工具機上設置一檢測裝置,該檢測裝置設......
 
 
  兩段式長行程奈米級精密定位系統  
本發明係關於&#......
 
  一種高精度旋轉軸熱變形量測系統  
一種高精度旋轉軸熱變形量測系統,乃針對旋轉軸會因溫度上升所產生平移誤差、角度偏移作量測;其構成系統之......
 
 
  應用雷射光源於三次元量床之掃描表面形貌檢測裝置  
一種應用雷射光源於三次元量床之掃描表面形貌檢測裝置,包括有一投射光束之光源模組、一調整光源組裝誤差之......
 
  工具機軌跡精度補償裝置  
一種工具機軌跡精度補償裝置,包括有一工具機位移平台、一雷射二極體模組及二極體夾治具、一光感測器模組及......
 
 
  自動化鏟花工件表面之鏟花設備  
本創作係一種自動化鏟花工件表面之鏟花設備,設有一二軸以上的移動平台及一電腦,該移動平台上設置有一三角......
 
  迴轉式自動鏟花裝置  
本發明係關於一種迴轉式自動鏟花裝置,設有一驅動組、一連桿組與一刀具組,該驅動組設有一結合架、一驅動馬......
 
 
  直度誤差量測裝置  
一種直度誤差量測裝置,特別係指一種兼具低成本與高精度的直度誤差量測裝置,其係將一光學讀頭固定於線性運......
 
  一種量測透明基板厚度與折射率之架構  
一種量測透明基板厚度與折射率之架構,包含一共軛焦式頭、一物鏡、一反射鏡、一半導體雷射頭及一四象限感測......
 
 
  一種應用分光束檢測取放機構多軸誤差之裝置  
一種應用分光&#......
 
  應用雷射光源掃描鏟花表面的裝置與方法  
一種應用雷射光源掃描鏟花表面的裝置與方法,主要包括光源單元、平台裝置以及進给裝置;該光源單元用以投射......
 
 
  一種非接觸式振動量測裝置  
一種非接觸式振動量測裝置,係於移動體上設置光反射裝置,當移動體於待測滑軌上滑動時,以雷射光射向移動體......
 
  一種壓印平台對準與調平的量測系統  
一種壓印平台對準與調平的量測系統,主要由一量測平台、一模板夾置平台以及一晶圓夾置平台所構成;該量測平......
 
 
  一種線性摩擦阻力量測裝置  
一種線性摩擦&#......
 
  一種應用單光源於取放機構檢測X軸定位誤差與Y軸定位誤差之裝置  
一種應用單光&#......
 
 
  光學式機台校正檢測裝置  
一種光學式機台校正檢測裝置,主要由一光源單元、一分光元件、至少一光電感測器所構成;該光源的雷射光入射......
 
  工具機角度定位量測系統  
一種工具機角度定位量測系統,其包括有一光檢裝置及一準直反射裝置,其中光檢裝置係架設於工具機外一腳架上......
 
 
  刀塔式自動產花裝置  
一種刀塔式自&#......
 
  固定座的檢測裝置  
一種固定座的&#......
 
 
  機具背隙檢測裝置  
一種機具背隙檢測裝置,一感測器,為將量測件之直線運動的變化量轉換成相對應的電子信號;一控制器,為執行......
 
  奈米壓電調整裝置  
一種奈米壓電調整裝置,其係設有一驅動組、一微動組及一回授量測組,該驅動組設有一主架體、一底板及一致動......
 
 
  導螺桿及螺帽牙型非接觸式量測方法及其裝置  
一種導螺桿及螺帽牙型非接觸式量測方法,其係提供一導螺桿及螺帽牙型非接觸式量測裝置,其中該非接觸式量測......
 
  DETECTING ASSEMBLY FOR A MULTI-AXIS MACHINE TOOL多軸工具機量測裝置(日本)  
本發明係關於&#......
 
 
  DETECTING ASSEMBLY FOR A MULTI-AXIS MACHINE TOOL多軸工具機量測裝置  
A detecting assembly for multi-axis machine tools ......
 
  AUTOMATIC SCAN AND MARK APPARATUS鏟配件表面檢測及快速彩色記號標註裝置及方法  
An automatic scan and mark apparatus has a machine......
 
 
  METHOD OF DETECTING A DYNAMIC PATH OF A FIVE-AXIS MACHINE TOOL AND DECTECTING ASSEMBLY FOR THE SAME五軸工具機動態路徑檢測方法及其裝置  
A method of detecting a dynamic path of a five-axi......
 
  Geometric error measuring device幾何誤差檢測裝置  
A geometric error measuring device includes a meas......
 
 
  ASSEMBLY FOR A MULTI-AXIS MACHINE TOOL多軸工具機量測裝置(歐盟)  
A detecting assembly for multi-axis machine tools ......
 
  MANUFACTURING-PROCESS EQUIPMENT雷射直寫式奈米週期性結構圖案製程設備)(歐盟)  
A manufacturing-process equipment has a platform a......
 
 
  Auto-scraping apparatus仿真式自動鏟花裝置  
An auto-scraping apparatus for a work piece of a h......
 
  線性運動量測系統  
一種線性運動&#......
 
 
  一種線性移動單元靜力矩量測裝置  
本發明係關於&#......
 
  用於精密機具之球形透鏡檢測裝置  
本發明係關於一種用於精密機具之球形透鏡檢測裝置,其設有一感測頭、一透鏡組及一訊號處理組,該感測頭設有......
 
 
  多軸工具機量測裝置  
本發明係關於&#......
 
  一種利用平面光學尺檢測六自由度平台誤差的方法  
一種利用平面&#......
 
 
  一種以二維光學尺作六自由度量測的系統  
一種以二維光&#......
 
  一種五自由度環型光柵式旋轉軸量測系統  
一種五自由度&#......
 
 
  一種利用光柵繞射原理所建立之四自由度量測系統  
本發明為一種&#......
 
  一種用光學尺量測技術結合原子力探針在二維平面量測的系統  
一種用光學尺量測技術結合原子力探針在二維平面量測的裝置,係使用兩組原子力探針其擺設相位差為90度,並......
 
 
  一種檢測五自由度誤差系統  
一種檢測五自由度誤差系統,主要係採用光學非接觸式檢測模式,以達成高精確度之要求,而其架構包括有兩組光......
 
  一種利用光學像散原理應用於自由曲面之量測系統與方法  
一種利用光學像散原理應用於自由曲面之量測系統與方法,為利用光學量測三次元系統以達到非接觸性量測,其係......
 
 
  一種利用原子力顯微鏡為基台進行拉伸試驗的裝置與方法  
一種利用原子力顯微鏡(AFM)為基台進行拉伸試驗的裝置與方法,係以原子力顯微鏡掃描模組為基台及具有垂......
 
  雙軸六自由度振動量測系統  
一種雙軸六自由度振動量測系統,主要利用兩個呈正交之可被光束覆蓋平面鏡,藉以治具置設於待測物上,並利用......
 
 
  一種雙光束雷射干涉儀檢測直度誤差之系統與方法  
一種雙光束雷射干涉儀檢測直度誤差之系統與方法,主要係採用光學非接觸式檢測模式,以達成高精確度之要求;......
 
  一種高精度奈米級旋轉軸誤差量測方法與裝置  
本發明係有關於一高精度奈米級旋轉軸誤差量測方法與裝置,至少包含一雷射光源、複數個分光鏡、一貓眼反射鏡......
 
 
  一種負荷切削下數值工具機動態性能測試機構  
一種負荷切削&#......
 
  即時量測平台角度誤差之光學式量測單元及其方法  
一種即時量測平台角度誤差之光學式量測單元及其方法,係於平台上利用夾治具將光學尺、以及由光源體、分光鏡......
 
 
  即時量測真圓度量測儀誤差之量測裝置及補償方法  
一種即時量測真圓度量測儀誤差之量測裝置及補償方法,其主要之功能係利用雷射四象儀,即時(on-line......
 
  一種應用角隅菱鏡與四象限感測器建立奈米級解析度之三軸振動量測裝置  
一種應用角隅菱鏡與四象限感測器建立奈米級解析度之三軸振動量測裝置,其主要包括:一雷射光源、一第一分光......
 
 
  使用光槓桿原理檢測旋轉軸誤差之方法  
本發明為一種&#......
 
  一種利用位置感測器平板所建立之工具機量測裝置  
一種利用位置感測器平板所建立之工具機量測裝置,是將雷射光源夾治具固定於工具機之旋轉軸刀夾上或者工具機......
 
 
  一種雙軸五自由度量測裝置與方法  
一種雙軸五自由度量測裝置及方法,主要係於工作平台的X軸與Y軸方向分別架設以微型三自由度量測系統,該微......
 
  單軸六自由度光學量測系統及方法  
本發明係有關於一種單軸六自由度光學即時量測方法與系統,其係在基準座上朝移動平台發射三道或三道以上的雷......
 
 
  一種可檢測高速循軌性能裝置  
本發明係關於一種可檢測高速循軌性能裝置,是由二維置置感測器及雷射光源所組成,其主要之功能在於檢測各式......
 
  一種光學式旋轉軸誤差量測裝置  
本發明為一種光學式旋轉軸誤差量測裝置,係利用一標準棒架於工具機的旋轉軸上,在標準棒的前端緊貼一個反射......
 
 
  一種繞射式角定位多自由度量測裝置  
本發明為一種繞射式角定位多自由度量測裝置。整個系統架構包含一反射式繞射光柵、一參考旋轉盤、一待測轉盤......
 
  微型主軸迴轉精度量測裝置  
一種微型主軸迴轉精度量測裝置,主要是利用一般雷射光源反射的原理及架構來組成,將試驗標準棒置於微型機台......
 
 
  一種線性雙軸幾何誤差之量測裝置  
本發明為一種線性雙軸幾何誤差之量測裝置。此系統包含了四組光纖位移計、四組二維光學讀頭及一個二維光柵刻......
 
  一種奈米級雙軸輪廓量測裝置  
一種奈米級雙軸輪廓量測裝置,包括有一雷射頭a;一半反射鏡;一反射鏡組;一分光鏡組;一角隅稜鏡組;一接......
 
 
  繞射式三角雷射讀頭及其檢測誤差之方法  
本發明係有關於一種繞射式三角雷射讀頭及其檢測誤差之方法,其係在移動平台上設反射式光柵,並配合設置雷射......
 
  一種穿透式光柵量測旋轉軸誤差之裝置  
一種穿透式光柵量測旋轉軸誤差之裝置,該系統乃是將雷射二極體係固定於主軸,雷射二極體發出的光束入射至垂......
 
 
  一種反射式光柵量測旋轉軸誤差裝置與方法  
一種反射式光柵量測旋轉軸誤差之裝置與方法,其構成係由一雷射二極體、一反射式光柵及二雷射四象儀所組設而......
 
  全電式奈米壓印器  
本發明涉及一種全電式奈米壓印器,是由三自由度微調平台利用撓性變形機構建立奈米位移與角度,配合壓電致動......
 
 
  一種五軸工具機檢測裝置  
本發明能同時檢測工具機的五軸精度,適用於各種工具機上做檢測,並且與傳統干涉儀檢測技術一樣,具有非接觸......
 
  應用像散法與透明體半透明體厚度檢測  
一種應用像散法於透明體與半透明體厚度檢測之系統,係利用一雷射光源,經聚焦物境與圓柱透鏡後聚焦在一四象......
 
 
  非接觸式之雙向雷射探針  
一種非接觸式之雙向雷射探針,其主要利用可產生光與檢測光的訊號之共軛焦探頭,於其發出光源後入射於物鏡,......
 
  高精度兩段式三角雷射共焦探頭  
一種高精度兩&#......
 
 
  一種利用繞射原理之光學式水平量測裝置  
一種利用繞射原理之光學式水平量測裝置,係由雷射光束、反射鏡、光柵及位置感測器所組成,並具有一鐘擺機構......
 
  光電式六自由度量測系統  
本發明涉及工業量測技術,主要為測量待測物六自由度的誤差變化,可應用於半導體業、光電業、電子業及精密機......
 
 
  具有取樣原點設定功能之掃描裝置  
一種具有取樣原點設定功能之掃描裝置,其包含一掃描端子、一控制電腦、一位移感測裝置及一三維移動裝置,該......
 
  鏟配件表面檢測及自動化品質檢測裝置  
一種鏟配件表面檢測及自動化品質檢測裝置,其包含一三維移動量測以及電性連接該三維移動量測裝置之一控制電......
 
 
  一種奈米級閉迴路四軸平台機構  
一種奈米級閉&#......
 
  使用四象儀與雷射二極體之三維振動位移量測系統  
本發明為使用四象儀與雷射二極體之三維振動位移量測系統,其利用一組夾治具來夾持多組四象儀,以及另一組夾......
 
 
  一種利用雷射及位置感測器所建立之鑽孔、攻牙量測裝置  
一種利用雷射及位置感測器所建立之鑽孔、攻牙量測裝置,其主要是將一雷射光源架設於旋轉軸上,利用雷射光射......
 
  一種使用光柵式干涉儀之三維量測系統  
一種使用光柵&#......
 
 
  高承載線性滑軌結構  
本發明係關於&#......
 
  奈米級五軸共平面微動平台  
本發明係有關一種奈米級五軸共平面微動平台,其係以撓性體所架構而成,並能達到五自由度的運動,其包括有基......
 
 
  一種簡易的玻璃厚度的量測裝置  
本發明為一種簡易的玻璃厚度的量測系統,其主要為利用雷射二極體發光入射待測玻璃,因為不同介質有不同的折......
 
  可量測五自由度訊號系統  
一種可量測五&#......
 
 
  一種繞射式角定位五自由度量測裝置  
本發明係利用光學干涉及繞射原理的一種繞射式角定位五自由度量測裝置,整個系統架構包含一光源、一反射式圓......
 
  利用貓眼反射器量測旋轉軸誤差裝置  
本發明係有關一種利用貓眼反射器量測旋轉軸誤差裝置,主要是利用貓眼反射器架設於真圓度機的旋轉軸上,並在......
 
 
  微動機構  
本發明涉及一種微動機構,特別係指一種是利用不同撓性體設計出之微動機構,該微動機構包含有一基座、一撓性......
 
  一種奈米級旋轉軸誤差量測裝置  
一種奈米級旋轉軸誤差量測裝置,其主要包括:一雷射光源、一BS分光鏡、一角隅稜鏡、一反射鏡、一光柵、一......
 
 
  一種奈米級三自由度微動平台機構  
一種奈米級三&#......
 
  一種利用反射原理之光學式水平量測裝置  
一種利用反射之光學式水平量測裝置,係由雷射光束、反射鏡及位置感測器所組成,並具有一鐘擺機構使反射鏡恆......
 
 
  一種利用多重反射原理所建立的光電式六自由度量測系統  
一種利用多重反射原理所建立的光電式六自由度量測系統,係由可放置多道雷射光源的雷射塔、三個二維位置感測......
 
  一種二維光電式高精度角度量測系統  
一種二維光電式高精度角度量測系統,可同時量測兩個軸向角度變化,其精度決定於系統的體積大小;係由一雷射......
 
 
  一種用於三維空間定位性能檢測、三維循軌及任意軸直度量測之雷射陣列量測系統  
一種用於三維空間定位性能檢測、三維循軌及任意軸直度量測之雷射陣列量測系統,利用二維位置感測器在多道雷......
 
  一種簡易檢測數值工具機體積誤差之方法  
本發明為適用於工具機等平台之誤差檢測,其主要功能為將二維光學尺機構組合使用於檢測數控工具機的誤差,使......
 
 
  一種奈米級六軸重載重之微動系統  
本創作『六軸重負載微動機構』乃是將先前的一種『奈米級五軸微動機構』在系統的架構上做改良,並增加一個自......
 
  一種繞射式六自由度光電量測系統  
一種繞射式六&#......
 
 
  雷射內藏式量測連桿機構  
本發明專利雷&#......
 
  一種使用雷射二極體及四象儀檢測旋轉軸誤差之方法  
本發明為使用&#......
 
 
  一種補償雷射二極體與四象儀量測系統之設定誤差的方法  
本發明為使用&#......
 
  奈米級旋轉軸誤差檢測系統  
一種奈米級旋轉軸誤差檢測系統,包括:一雷射光源、一分光鏡、一凹面鏡、以及一四象限感測器所構成;該檢測......
 
 
  線性滑軌行走平行度量測裝置  
一種線性滑軌行走平行度量測裝置,包括一基座、一多向滑動單元、一線性馬達、一含有感測元件的線性單元以及......
 
  一種檢測多軸加工機誤差之系統與方法  
一種檢測多軸加工機誤差之系統與方法,係由雷射光源與光電感測器所組成之簡易架構,為將雷射光源固定於旋轉......
 
 
  一種五軸工具機檢測裝置  
本發明係有關一種奈米級五軸共平面微動平台,其係以撓性體所架構而成,並能達到五自由度的運動,其包括有基......
 
  線性滑軌靜動態多功能測試機  
一種線性滑軌行走平行度量測裝置,包括一基座、一多向滑動單元、一線性馬達、一含有感測元件的線性單元以及......
 
 
  仿真式自動鏟花裝置  
本發明係一種仿真式自動鏟花裝置,設有一滑軌組、一驅動組與一鏟刀組,該滑軌組設有一結合架、一可滑動地與......
 
  二自由度奈米級壓電對位平台機構  
一種二自由度奈米級壓電對位平台機構,主要係由一基板、一移動單元、一壓電驅動單元所構成;主要採用壓電致......
 
 
  鏟配件表面檢測及快速彩色記號標註裝置及方法  
一種鏟配件表面檢測及快速彩色記號標註裝置,其包含一三維移動量測以及電性連接該三維移動量測裝置之一控制......
 
  光學檢測平行度裝置  
一種光學檢測平行度裝置,特別係指一種高精確度、且檢測迅速的平行度檢測裝置,該裝置具有一光源模組、一分......
 
 
  雙光柵訊號量測系統  
一種雙光柵訊號量測系統,為光源提供一光束射入穿透光柵後會產生零階與正負一階的繞射光,穿透後的零階繞射......
 
  混合式六自由度奈米級精密定位平台系統  
本發明是關於一種混合式六自由度奈米級精密定位平台系統,設有一平台組、一量測回授組及一控制組,該平台組......
 
 
  用以量測多軸工具機作動的量測裝置  
......
 
  MANUFACTURING-PROCESS EQUIPMENT雷射直寫式奈米週期性結構圖案製程設備  
A manufacturing-process equipment ......
 
 
  Optical Calibration and Testing Device for Machine Tools光學式機台校正檢測裝置  
An optical calibration and testing device for mach......
 
  MANUFACTURING-PROCESS EQUIPMENT雷射直寫式奈米週期性結構圖案製程設備(製造工程裝置-日本)  
......
 
 
  OPTICAL PARALLELISM MEASUREMENT DEVICE光學檢測平行度裝置  
A high precision, rapidly operable optical paralle......
 





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